DSpace О системе DSpace
 

IRZSMU >
Кафедри >
Кафедра офтальмології >
Наукові праці. (Офтальмологія) >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/9508

Название: Диагностическая ценность функциональных методов в раннем выявлении восходящей и нисходящей атрофии зрительного нерва
Авторы: Михеева, Е. С.
Цыбульская, Т. Е,
Цибульська, Таміла Євгенівна
Ключевые слова: тези доповідей
Дата публикации: 2018
Издатель: Запорізький державний медичний університет
Библиографическое описание: Михеева Е. С. Диагностическая ценность функциональных методов в раннем выявлении восходящей и нисходящей атрофии зрительного нерва / Михеева Е. С., Цыбульская Т. Е. // Актуальні питання сучасної медицини і фармації : тези доп. Всеукр. наук.-практ. конф. (до 50-річчя заснування ЗДМУ), 18-25 квітня 2018 р., 30 травня 2018 р. – Запоріжжя, 2018. – С.89.
Аннотация: Введение: Одной из причин слепоты и слабовидения в офтальмологической практике является атрофия зрительных нервов (АЗН). В структуре первичной инвалидности АЗН составляет 13,3%. По данным статистики уровень заболеваемости АЗН в Украине за последние 5 лет увеличился на 28,8% и составляет 112,7 на 100000 населения. Исследования показывают, что при восходящей АЗН происходит истончение комплекса ганглиозных клеток и перипапиллярного слоя нервных волокон сетчатки, что коррелирует с офтальмоскопической картиной глазного дна (побледнение дисков зрительных нервов). В то время как при нисходящем характере процесса видимые офтальмологические изменения проявляются только на поздних стадиях заболевания, что затрудняет раннюю диагностику.
URI: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/9508
Располагается в коллекциях:Наукові праці. (Офтальмологія)

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
Page-89-Михеева.pdf192,59 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь