DSpace О системе DSpace
 

IRZSMU >

Просмотр коллекции по группе - По автору Сидор, О. В.

Перейти к: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
или введите несколько первых букв:   
Сортировка: Упорядочнить: Вывести на страницу: Авторы:
Отображение результатов 1 до 8 из 8
Дата публикацииНазваниеАвтор(ы)
2022Severity of adentia as a risk factor of repeated dental implant operationsVarzhapetian, S. D.; Kovach, I. V.; Sydor, O. V.; Strogonova, T. V.; Buniatian, K. A.; Dats, V. V.; Kucherenko, A. N.; Варжапетян, Сурен Діасович; Ковач, І. В.; Сидор, О. В.; Строгонова, Тетяна Василівна; Бунятян, К. А.; Дац, Валерія Валеріївна; Кучеренко, О. М.
2023Вираженість запалення навколо комерційних дентальних імплантатів із різною поверхнeюСидор, О. В.; Строгонова, Тетяна Василівна; Sydor, O. V.; Strogonova, T. V.
2022Досвід лікування бойових травм щелепно-лицевої ділянки титановими імплантатами в умовах сучасної війниІвченко, Дмитро Валерійович; Варжапетян, Сурен Діасович; Міщенко, Олег Миколайович; Сидор, О. В.; Петренко, Ю. М.; Яцун, Євген Володимирович; Строгонова, Тетяна Василівна; Ivchenko, D. V.; Varzhapetian, S. D.; Mishchenko, O. M.; Sydor, O. V.; Petrenko, Yu. M.; Yatsun, Ye. V.; Strohonova, T. V.
2023Дослідження клітинного складу у рідини периімплантних кишень імплантатів з різною обробкою поверхніСидор, О. В.
2023Дослідження факторів ризику повторних операцій при дентальній імплантаціїСидор, О. В.
2023Кореляція щільності кістки окремих ділянок щелеп за Гаунсфілдоміз довжиною ділянки адентії в програмі конусно-променевої комп’ютерної томографіїСидор, О. В.; Строгонова, Тетяна Василівна; Варжапетян, Сурен Діасович; Sydor, O. V.; Strohonova, T. V.; Varzhapetian, S. D.
2023Характер дефектів зубного ряду за їх протяжністю при дентальної імплантаціїСидор, О. В.
2022Характеристика факторів успішності першого етапу дентальної імплантації на основі ретроспективного аналізу медичної документаціїСальников, В. І.; Сидор, О. В.
Отображение результатов 1 до 8 из 8

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь