DSpace О системе DSpace
 

IRZSMU >
Кафедри >
Кафедра дитячих хвороб ННІПО >
Наукові праці. (Дитячі хвороби ННІПО) >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/12056

Название: Рівень інсуліну, як показник адаптаційних можливостей новонароджених дітей
Авторы: Кравець, Людмила Володимирівна
Ключевые слова: тези доповідей
Дата публикации: 2019
Издатель: ДЗ «Запорізька медична академія післядипломної освіти МОЗ України»
Библиографическое описание: Кравець Л. В. Рівень інсуліну, як показник адаптаційних можливостей новонароджених дітей / Л. В. Кравець; [ наук. кер. проф. Л.М. Боярська ] // Актуальні питання клінічної медицини : тези за мат. ХІІІ Всеукр. наук.-практ. конференції молодих вчених з міжнар. участю ( 15 листопада 2019 р., м. Запоріжжя ). – Запоріжжя, 2019. – С. 55-57.
Аннотация: Інсулін має складну і багатогранну дію на обмін речовин і енергії. Багато з ефектів інсуліну реалізуються через його здатність діяти на активність ряду ферментів. Інсулін - основний гормон, що знижує вміст глюкози у крові, та виконує ряд анаболічних та антикатаболічних ефектів: підсилює поглинання клітинами амінокислот (особливо лейцину і валіну), підсилює транспорт в клітину іонів калію, а також іонів магнію і фосфат-іонів, підсилює реплікацію ДНК і біосинтез білка, підсилює синтез жирних кислот і подальшу їх етерифікацію - в жировій тканині і в печінці інсулін сприяє перетворенню глюкози в тригліцериди; при нестачі інсуліну відбувається зворотне - мобілізація жирів, пригнічує гідроліз білків - зменшує деградацію білків, зменшує ліполіз - знижує надходження жирних кислот у кров.
URI: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/12056
Располагается в коллекциях:Наукові праці. (Дитячі хвороби ННІПО)

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
Кравець55.pdf660,65 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь