DSpace О системе DSpace
 

IRZSMU >
Наукові роботи студентів та аспірантів >
Студентське наукове товариство: статті, доповіді, тези >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/12235

Название: Изучение причин недовольства посетителей аптек
Авторы: Чорний, Т. А.
Ключевые слова: тезы
этика и деонтология
аптечное учреждение
провизор
фармацевт
посетитель аптеки
Дата публикации: 2020
Издатель: Витебск : ВГМУ
Библиографическое описание: Чорний Т. А. Изучение причин недовольства посетителей аптек / Т. А. Чорний [науч. рук. к.ф.н., доцент Заричная Т. П.] // Актуальные вопросы современной медицины и фармации : материалы 72-й научно-практич. конф. студентов и молодых учёных (12-13 мая 2020, г. Витебск/) под ред. А. Т. Щастного. – Витебск : ВГМУ, 2020. – С. 834-837.
Аннотация: Целью является изучение причин недовольства у посетителей аптек. Материалами являлась статистически обработанная информация, полученная с помощью метода анкетирования 45 посетителей аптек города Запорожья. Для проведения исследования изучаемые критерии разделили на три группы: неудовлетворенность от общения с провизором (фармацевтом), неудовлетворенность организации работы аптеки, неудовлетворенность стоимостью, качеством, определенными характеристиками лекарственных средств, приобретаемых в аптеке. Установлено, что наиболее негативно на посетителей аптек влияют невнимательность провизора, наличие очередей и высокая цена лекарственного средства. Изучены причины неудовлетворенности у посетителей аптек. Установлены наиболее значимые из них.
URI: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/12235
Располагается в коллекциях:Студентське наукове товариство: статті, доповіді, тези

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
Актуальные вопросы совр. мед. и фарм._834-837.pdf1,69 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь