DSpace О системе DSpace
 

IRZSMU >
Кафедри >
Кафедра урології >
Наукові праці. (Урологія) >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/12317

Название: Аналіз віддалених результатів після проведеного лікування хворих на сечокам'яну хворобу за даними показниками предикторів запалення
Авторы: Бачурін, Георгій Вікторович
Коломоєць, Юлія Сергіївна
Ломака, Станіслав Сергійович
Дата публикации: 2020
Издатель: Запорізький державний медичний університет
Библиографическое описание: Бачурін Г. В. Аналіз віддалених результатів після проведеного лікування хворих на сечокам'яну хворобу за даними показниками предикторів запалення / Г. В. Бачурін, Ю. С. Коломоєць, С. С. Ломака // Медико-соціальні, правові проблеми репродуктивної медицини та ефективні шляхи їх подолання в умовах реформування медичної галузі України : зб. тез Всеукр. наук.-практ. конф. з міжнар. участю спільно з асоц. гінекологів-ендокринологів України, (Запоріжжя, 23 жовт. 2020 р.) – Запоріжжя : ЗДМУ, 2020.
Аннотация: Сечокам’яна хвороба (СКХ)-складний та багатоетапний процес утворення каменів на тлі ензимопатій і порушень обміну речовин, що грають роль етіологічних чинників, розгортається дія екзо- та ендогенних, місцевих та загальних патогенетичних факторів (М.О. Лопаткін, 1995). У 30-80 % випадків захворювання перебігає з явищами інфекційно-запального процесу, що може призвести до виникнення ускладнень, таких як ниркова недостатність, інвалідність і навіть смерті хворого (С. П. Пасєчніков, 2013). Хронічний пієлонефрит сприяє рецидивам і ускладнюється нефролітіазом у 85 % хворих (Возіанов О.Ф., Серняк П.С., Байло В.Д., 1884).
URI: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/12317
Располагается в коллекциях:Наукові праці. (Урологія)

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
с.15-19.pdf927,96 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь