DSpace О системе DSpace
 

IRZSMU >
Наукові роботи студентів та аспірантів >
Студентське наукове товариство: статті, доповіді, тези >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/14676

Название: Ультразвукова оцінка рубця на матці після кесарева розтину у пацієнток репродуктивного віку
Авторы: Савченко, Д. С.
Амро, А. Т.
Ключевые слова: тези
Дата публикации: 2021
Издатель: Запорізький державний медичний університет
Библиографическое описание: Савченко Д. С. Ультразвукова оцінка рубця на матці після кесарева розтину у пацієнток репродуктивного віку / Д. С. Савченко, А. Т. Амро ; [наук. кер. канд. мед. наук Амро І. Г.] // Актуальні питання сучасної медицини і фармації – 2021 : зб. тез доповідей наук.-практ. конф. з міжнар. участю молодих вчених та студ., (м. Запоріжжя, 15 – 16 квітня 2021 р.). – Запоріжжя : ЗДМУ, 2021. – С. 83-84.
Аннотация: Широке використання кесаревого розтину (КС) за останні 20 років призвело до збільшення кількості жінок з оперованою маткою. Відомо, що ризик ускладнень у матері при абдомінальному розродженні збільшується на багато разів, особливо при екстренному оперуванні. В останні роки вітчизняні акушери все частіше вдаються до ведення консервативних пологів після КС, але, на жаль, часто виникають проблеми з серйозною проблемою маткового рубця. Основною причиною формування такого рубця служить післяпологовий ендометрит. На перебіг процесів загоєння впливають багато факторів: тривалість операцій, крововтрата, використаний шовний матеріал, перебіг післяопераційного періоду, т.д.
URI: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/14676
Располагается в коллекциях:Студентське наукове товариство: статті, доповіді, тези

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
Актуальні питання сучасної медицини 83- 84.pdf543,87 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь