DSpace О системе DSpace
 

IRZSMU >
Кафедри >
Кафедра технології ліків >
Наукові праці. (Технологія ліків) >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/17128

Название: Вивчення впливу концентрації поверхнево-активних речовин на вивільнення каптоприлу з ректальних супозиторіїв
Другие названия: Studying of influence of concentration of surface-active substances on release of captopril from rectal suppositories
Авторы: Алмохамад Жумаа, Абдуллах
Гладишев, Віталій Валентинович
Лисянська, Ганна Петрівна
Кечин, Ігор Леонідович
Almohamad Zhumaa, Abdullah
Hladyshev, V. V.
Lysianska, A. P.
Kechyn, I. L.
Ключевые слова: каптоприл
поверхнево-активні речовини
вивільнення
captopril
surface-active substances
release
Дата публикации: 2011
Библиографическое описание: Вивчення впливу концентрації поверхнево-активних речовин на вивільнення каптоприлу з ректальних супозиторіїв / Жумаа Абдуллах Алмохамад, В. В. Гладишев, А. П. Лисянська, І. Л. Кечин // Медична хімія. - 2011. - Т. 13, № 3. - С. 41-43.
Аннотация: У результаті проведеного біофармацевтичного вивчення супозиторіїв з каптоприлом установлено, що концентрація моногліцеридів дистильованих у кількості 2 % від маси супозиторіїв забезпечує оптимальний рівень вивільнення діючої речовини з ректальної лікарської форми. As a result of the conducted biopharmaceutical studying of suppositories with captopril it was established that concentration of distilled monoglycerides in amount of 2 % from weight of suppositories provides an optimum level of release of operating substance from the rectal medicinal form.
URI: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/17128
Располагается в коллекциях:Наукові праці. (ВХ-1)
Наукові праці. (Технологія ліків)

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
Med_chim_2011_13_3_9.pdf200,03 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь