DSpace О системе DSpace
 

IRZSMU >
Кафедри >
Кафедра патологічної фізіології з курсом нормальної фізіології >
Наукові праці. (Патологічна фізіологія) >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/17251

Название: Influence of chronic restraint stress on the morphological heterogeneity of hypothalamic neurons of wistar rats
Авторы: Maiorov, A. F.
Romanova, K. B.
Hancheva, O. V.
Майоров, Антон Федорович
Романова, Катерина Борисівна
Ганчева, Ольга Вікторівна
Ключевые слова: Paraventricular nucleus
Wistar
restraint stress
adaptation
nucleic acids
Дата публикации: 2022
Библиографическое описание: Maiorov A. F. Influence of chronic restraint stress on the morphological heterogeneity of hypothalamic neurons of wistar rats / A. F. Maiorov, K. B. Romanova, O. V. Hancheva // Від експериментальної та клінічної патофізіології до досягнень сучасної медицини і фармації : тези доповідей ІV наук.-практ. конференції студентів та молодих вчених з міжнар. участю (19 травня 2022 р.). – Київ, 2022. - С. 46-47.
Аннотация: There is no doubt that the paraventricular nucleus of the hypothalamus is the main stress-implementing link which leads to activation of neuro-immune-endocrine mechanisms of adaptation to changed conditions of the organism. It should be noted that the paraventricular nucleus (PVN) is very heterogeneous in its structure and functions, so that is logical to assume that the reaction of the paraventricular nucleus to increased demand for its neurons during stress will occur due to certain groups of neurons and not due to the hypothalamic nucleus at all.
URI: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/17251
Располагается в коллекциях:Наукові праці. (Патологічна фізіологія)

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
c46-47.pdf536,14 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь