DSpace О системе DSpace
 

IRZSMU >
Наукова періодика ЗДМУ >
Запорожский медицинский журнал/Zaporozhye medical journal >
2011. ZMJ >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/3177

Название: Обмеження опромінення людини за рахунок радону в контексті історичного розвитку цього питання
Авторы: Севальнєв, Анатолій Іванович
Костенецький, М. І.
Куцак, Алла Валеріївна
Шаравара, Лариса Павлівна
Ключевые слова: обмеження опромінення людини
нормування радону
ограничение облучения человека
нормирование радона
limitation of human’s irradiation
standartization of radon
Дата публикации: 2011
Издатель: Запорізький державний медичний університет
Библиографическое описание: Обмеження опромінення людини за рахунок радону в контексті історичного розвитку цього питання/ А. І. Севальнєв [та ін.] // Запорож. мед. журн. - 2011. - Т. 13, N 1. - С. 41-43.
Аннотация: Визначено, що нормування радону в різних країнах схоже і багато в чому збігається з рекомендаціями міжнародних організацій, але кількісне значення нормативів, роль державних структур у вирішенні цієї проблеми суттєво різняться. Установлено, что нормирование радона в разных странах похоже и во многом совпадает с рекомендациями международных организаций, но количественное значение нормативов, роль государственных структур в решении этой проблемы существенно различаются. It ascertained that standartization of radon is similar to such standartization in different countries and coincides with recommendations of international organizations, but quantitative levels of norms, participation of state structures in settling of this problem differ significantly.
URI: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/3177
Располагается в коллекциях:2011. ZMJ

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
zmj_1101_41-43.pdf332,51 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь