DSpace О системе DSpace
 

IRZSMU >
Кафедри >
Кафедра загальної практики - сімейної медицини та внутрішніх хвороб >
Навчальні матеріали та презентації. (Сімейна медицина) >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/5958

Название: Клінічне обстеження хворих. Рекомендації і вимоги щодо написання історії хвороби для студентів-стоматологів
Авторы: Михайловська, Наталія Сергіївна
Олійник, Тетяна Вікторівна
Дата публикации: 2017
Издатель: Запорізький державний медичний університет
Библиографическое описание: Михайловська Н. С. Клінічне обстеження хворих. Рекомендації і вимоги щодо написання історії хвороби для студентів-стоматологів [Електронний ресурс] : навч.-метод. посіб. до практ. занять та самостійної роботи студентів IІІ-IV курсів з навчальної дисципліни «Внутрішня медицина» для спеціальності 7.12010005 «Стоматологія» напряму підготовки 1201 «Медицина» / Н. С. Михайловська, Т. В. Олійник. – Запоріжжя : ЗДМУ, 2017. – 136 с. – Електронні текст. данні (1 файл: 1,51 МБ). - Назва з екрану
Аннотация: Навчально-методичний посібник до практичних занять та самостійної роботи студентів складений згідно з вимогами програми навчальної дисципліни «Внутрішня медицина» для спеціальності 7.12010005 «Стоматологія». В посібнику викладений навчально-методичний матеріал за модулем 2 щодо оформлення навчальної історії хвороби. Видання має на меті сприяти кращому засвоєнню вимог щодо оформлення навчальної історії хвороби студентами ІІІ-IV курсу медичного факультету (спеціальність «Стоматологія») під час підготовки до практичних занять.
URI: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/5958
Располагается в коллекциях:Навчальні матеріали та презентації. (Сімейна медицина)

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
Myhajlovs'kaNS17_Klini_obhv.pdf1,55 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь