DSpace О системе DSpace
 

IRZSMU >
Кафедри >
Кафедра патологічної фізіології з курсом нормальної фізіології >
Навчальні матеріали та презентації. (Патологічна фізіологія) >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/6798

Название: Патогенна дія електричного струму. Дія на організм високого та низького атмосферного тиску. Вплив на організм факторів космічного польоту
Авторы: Колесник, Юрій Михайлович
Ганчева, Ольга Вікторівна
Абрамов, Андрій Володимирович
Жулінський, Володимир Олександрович
Ковальов, Микола Михайлович
Василенко, Гліб Володимирович
Мельнікова, Ольга Валеріївна
Іваненко, Тарас Васильович
Грекова, Тетяна Анатоліївна
Каджарян, Єлизавета Віталіївна
Тіщенко, Сергій Вікторович
Данукало, Максим Вікторович
Федотова, Марія Ігорівна
Ключевые слова: електричний струм
атмосферний тиск
космісчний польот
Дата публикации: 2017
Библиографическое описание: Патогенна дія електричного струму. Дія на організм високого та низького атмосферного тиску. Вплив на організм факторів космічного польоту. Модуль № 1. Загальна патофізіологія. Змістовний модуль : Загальна нозологія : метод. рекомендації з самостійної підготовки для студентів 3 курсу мед. ф-ту спеціальності «Стоматологія» / Ю. М. Колесник [та ін.] ; за ред. проф. Ю. М. Колесника. – Запоріжжя : ЗДМУ, 2017. – 83 с.
Аннотация: Методичні рекомендації з самостійної підготовки для студентів 3 курсу медичного факультету спеціальності «Стоматологія»
URI: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/6798
Располагается в коллекциях:Навчальні матеріали та презентації. (Патологічна фізіологія)

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
Пед.-Патогенна дія електричного струму. Дія на організм високого та низького атмосферного тиску. Вплив на організм факторів космічного польоту.doc492,5 kBMicrosoft WordПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь