DSpace О системе DSpace
 

IRZSMU >
Кафедри >
Кафедра управління і економіки фармації та фармацевтичної технології ННІПО >
Наукові праці. (УЕФ та фарм. технології ННІПО) >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/7441

Название: Microscopic diagnostic study of inflorescences of Tagetes erecta plena L .var. "Hawaji"
Авторы: Малюгіна, Олена Олександрівна
Malugina, E. A.
Смойловська, Галина Павлівна
Smoilovska, G. P.
Ключевые слова: Tagetes erecta
flowers
microscopy investigation
Дата публикации: 2017
Издатель: БГМУ
Библиографическое описание: Malugina E. A. Microscopic diagnostic study of inflorescences of Tagetes erecta plena L .var. "Hawaji" / E. A. Malugina, G. P. Smoilovska // Инновации в медицине и фармации-2017 : мат. дистанционной науч.-практ. конф. студентов и молодых учёных". – Минск : БГМУ, 2017. - С. 647-652.
Аннотация: Резюме: были определены микроскопические диагностические признаки соцветий бархатцев прямостоячих высокорослой формы сорта «Гавайи». Основными микроскопическими диагностическими признаками Tagetes erecta plena L. var. «Hawaji» являются особенности строения эпидермы, характер устьичного аппарата, волосков, секреторных структур. Resume: the microscopic diagnostic signs of inflorescences of Tagetes erecta plena L. var.«Hawaji» were determined. The main microscopic diagnostic signs of Tagetes erecta plena L. var. «Hawaji» are features of the structure of the epidermis, stomata apparatus, trichomes, secretory elements.
URI: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/7441
ISBN: 978-985-567-864-0
Располагается в коллекциях:Наукові праці. (УЕФ та фарм. технології ННІПО)

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
Microscopic Diagnostic Study of Inflorescences of Tagetes erecta plena L .var. Hawaji.pdf1,18 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь