DSpace О системе DSpace
 

IRZSMU >
Кафедри >
Кафедра мовної та загальнотеоретичної підготовки >
Наукові праці. (Мовна підготовка) >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/7955

Название: Використання методу активної оцінки (АО) під час викладання української мови іноземним студентам (довузівський етап навчання)
Авторы: Гроссу, Наталія Валентинівна
Дата публикации: 2018
Издатель: Бахмут: вид-во Б. І. Маторіна
Библиографическое описание: Гроссу Н. В. Використання методу активної оцінки (АО) під час викладання української мови іноземним студентам (довузівський етап навчання) / Н. В. Гроссу // Східнослов’янська філологія: Від Нестора до сьогодення: матеріали VI Міжнар. наук. конф. (Бахмут, 10 квітня 2018 р.). – Бахмут: вид-во Б. І. Маторіна, 2018. – С. 61 - 62.
Аннотация: Актуальність роботи полягає у впровадженні методу активної оцінки (Formative assessment) у поєднанні з мультимедійними технологіями під час викладання української мови іноземним студентам. Робота ґрунтується на перспективному педагогічному досвіді Великобританії, США, Польщі та Білорусі, на публікаціях видатних науковців і педагогів-практиків. Дослідження і впровадження методу здійснювалися, переважно, у середніх школах [1],[2],[3],[4]. У вищій вітчизняній школі проблемам дослідження та впровадження методу активної оцінки присвячено невелику кількість наукових робіт: стаття вітчизняного науковця Бугайчука К.Л. [5]. Отже, використання методу активної оцінки у вищому навчальному закладі є нерозробленою темою.
Описание: Гроссу Наталія Валентинівна: ORCID - 0000-0002-4290-381X
URI: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/7955
Располагается в коллекциях:Наукові праці. (Мовна підготовка)

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
Східно’янська філологія_61-62.pdf282,01 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь