DSpace О системе DSpace
 

IRZSMU >
Наукові роботи студентів та аспірантів >
Студентське наукове товариство: статті, доповіді, тези >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/9105

Название: Клініко-параклінічні особливості у хворих на мозковий ішемічний півкульовий інсульт в залежності від виходу гострого періоду захворювання
Авторы: Вовк, Ю. Г.
Ключевые слова: тези доповідей
Дата публикации: 2019
Издатель: Запорізький державний медичний університет
Библиографическое описание: Вовк, Ю. Г. Клініко-параклінічні особливості у хворих на мозковий ішемічний півкульовий інсульт в залежності від виходу гострого періоду захворювання /Ю. Г. Вовк // Студенти-науковці ЗДМУ в сучасній медицині і фармації – 2019 : збірник тез доповідей наук.-практ. конф. студентів в рамках І туру «Всеукраїнського конкурсу студентських наукових робіт з галузей звань і спеціальностей у 2018 – 2019 н.р.», 06-07 лют. 2019 р., м. Запоріжжя. – Запоріжжя, 2019. – С. 41.
Аннотация: В Україні щорічно реєструють близько 100 тис. випадків інсультів, тобто кожні 5 хвилин у одного з українців вперше настає інсульт. Відповідно до прогнозів, у 2020 р. у світі захворюваність на інсульт зросте на 25%, що зумовлено старінням населення планети і зростанням розповсюдженості в популяції таких факторів ризику, як артеріальна гіпертензія, ожиріння, хвороби серця, цукровий діабет, куріння тощо. Мета. Вивчити клініко-параклінічні особливості у хворих на МІПІ в залежності від сприятливого вітального виходу (СВВ) та несприятливого вітального виходу (НВВ) гострого періоду захворювання.
URI: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/9105
Располагается в коллекциях:Студентське наукове товариство: статті, доповіді, тези

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
Page-41.pdf140,59 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь