DSpace О системе DSpace
 

IRZSMU >
Кафедри >
Кафедра дерматовенерології та естетичної медицини >
Наукові праці. (Дерматовенерологія) >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/9828

Название: Peculiarities of crusted scabies in immunocompromised patients
Авторы: Reznichenko, N.
Резніченко, Наталія Юріївна
Kothapalli, M. K.
Ключевые слова: тези доповідей
Дата публикации: 2019
Издатель: Запорізький державний медичний університет
Библиографическое описание: Reznichenko N. Peculiarities of crusted scabies in immunocompromised patients / N. Reznichenko, Kothapalli Mohith Kumar // Актуальні питання сучасної медицини і фармації : зб. тез доп. наук.-практ. конф. з міжнар. участю молодих вчених та студентів, 13–17 трав. 2019 р. – Запоріжжя: ЗДМУ, 2019. – С. 104.
Аннотация: Introduction. Patients with severe immunodeficiency have conditions for the occurrence of many infectious diseases. The most unfavorable prognosis in skin diseases is crusted/Norwegian scabies which is rare and characterized by widespread crusts, hyperkeratotic lesions teeming with innumerable mites. Aim: to identify the characteristics of the course of the crusted scabies in the immunocompromised patients with steroid therapy. Materials and Method. 10 cases of crusted scabies were treated in Community Institution “Zaporizhia Regional Dermatovenereology Clinical Hospital” of Zaporizhia Regional Council during 2018 -2019 years. Standard methods of microscopic laboratory analysis and treatment were used in all patients according to National Regime.
URI: http://dspace.zsmu.edu.ua/handle/123456789/9828
Располагается в коллекциях:Студентське наукове товариство: статті, доповіді, тези
Наукові праці. (Дерматовенерологія)

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
Reznichenko_104.pdf860,83 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь